本課程旨在提升教師對半導體先進製程與材料檢測技術的理解與實務應用能力，課程內容深入介紹多項材料分析與檢測技術，包括原子尖端檢測技術（如APT、AFM）、光譜分析（FTIR、Raman）、微觀繞射技術（TEM、SEM、XRD、FIB、Nanoindenter）及表面分析方法（XPS、SIMS、DHEM）等。除了理論講授，課程亦安排分組儀器設備見習，由專業講師實地指導操作，幫助教師建立實作經驗。最後透過產學交流與課程總結，促進知識整合與應用思維，為日後教學與研究奠定堅實基礎。

【活動資訊】

• 時間：114年8月11日(一)、8月12日(二)
• 地點：財團法人國家實驗研究院台灣半導體研究中心  (新竹市東區展業一路26號)
• 報名網址：https://forms.gle/8PnspqomNaWpYLWS8
• 報名截止：114年8月8日(五) 17:00  額滿即止
• 連絡人：教育部產學連結執行辦公室 - 國立臺北科技大學 賴專員
  • 電話：(02)2771-2171 分機6020
  • email：Email住址會使用灌水程式保護機制。你需要啟動Javascript才能觀看它